覆层厚度与基底 XPS 信号

文献方法依据 · 原创解析模型演示。

合成示例 · 非实验数据

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① 源码与 CSV 解压到同一文件夹。

② 请 AI 运行 render_existing.py，得到 PNG、SVG 和 PDF；再核对并换成你的数据。

源码和 CSV 解压到同一文件夹即可重画。图件和提示词可分别下载。

你也可以用自己的话说。

查看请求

请读取绘图包里的 README 和 metadata.json，按说明在项目独立环境中运行包内已有源码，重画这份演示数据。不要重新生成或改写演示 CSV。收到我的文件后，先核对列名、单位、归一化基准与测试条件，再在副本中适配。逐圈容量、库伦效率与容量保持率用散点，不加连线；连续电压和光谱用无点实线，数据坐标四周保留框线。全电池保持率需明确参考圈、参考容量和相同工况，缺项先补齐；Li‖Cu 不强加保持率。不要继承演示条件、补造数据或静默覆盖旧图；回复只给结果位置和必要的下一步。

第一次用？先安装桌面软件 →

输入与使用边界

data.csv, model.json

输入格式、单位和条件见 README 与 metadata.json。示例是合成数据，不能用于论文实验结果。

No acquired cell or material. Independently declared analytic parameters, assumptions and units in scientific_basis.

示例的模型与依据

按声明的教学模型生成。参数为自设，引用支持公式或测试方法，不是从论文复制的实测数字。

计算关系

I/I0=exp[-d/(lambda*cos(theta))]

使用边界

Illustrative EAL, flat uniform overlayer; elastic scattering and roughness excluded.
A numerical/model QA pass does not validate author data or a physical mechanism.

模型来源

NIST: Practical Guide for Inelastic Mean Free Paths, Effective Attenuation Lengths, Mean Escape Depths, and Information Depths in XPS
Known attenuation length controls substrate signal through a uniform overlayer.

相关资源

来源与引用

原创合成示例，数据与本版源码包含在绘图包内；未使用论文数据或原图

VoltPeer. 覆层厚度与基底 XPS 信号. Synthetic teaching delivery, version 1.0.0; data generator 1.0.0.

BIB ↓ RIS ↓

VoltPeer maintainers · v1.0.0 · MIT

文件、校验与检查状态

文件和格式已检查；模型测试范围见适配说明。格式检查不代表科学审核。

data.csv ↓figure.pdf ↓figure.png ↓figure.svg ↓metadata.json ↓model.json ↓render-report.json ↓BRF-demo-science_xps_overlayer_attenuation.zip ↓science_xps_overlayer_attenuation.bib ↓science_xps_overlayer_attenuation.ris ↓

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